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AgilentE4980ALCR表 簡單介紹 Agilent E4980A精密LCR數字電橋通過其的精度、速度、可定義的測試信號電平和擴展性，樹立了LCR表的新標準。E4980A的*性能提供解決方案和真實多功能性，適用于通用研發(fā)和產品環(huán)境中的各種元器件和材料測量應用。

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更新日期：2023-11-16

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AgilentE4981A電容計 長期回收工廠閑置儀器儀表/倒閉電子儀器儀表，個人處理，歡迎咨詢!! 本公司是一家專業(yè)銷售.租憑.維修.計量.回收.收購各種電子儀器儀表 E4981A 電容計 主要特性與技術指標 測量時間 高速測量:2.3 ms（1 MHz）、3.0 ms（1 kHz）、11.0 ms（120 Hz） 基本精度 精確的 C-D 測試： 0.07%，0.0005

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更新日期：2023-11-16

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HP4285A LCR測試儀主要特性與技術指標 頻率 頻率范圍為75 kHz至30 MHz，以100 Hz步進 基本精度 0.1%基本精度 測量時間 高速測量：30 ms/測量

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更新日期：2023-11-21

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Agilent E4980A精密LCR數字電橋通過其的精度、速度、可定義的測試信號電平和擴展性，樹立了LCR表的新標準。E4980A的*性能提供解決方案和真實多功能性，適用于通用研發(fā)和產品環(huán)境中的各種元器件和材料測量應用。

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更新日期：2023-11-15

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的測試方法來改善元件的質量。20Hz到1MHz寬的測頻范圍 和優(yōu)良的測試信號，使4284A在測試元件時符合Z通行的測試標準如IECMIL標準（電工委員會或美國軍用標準），且工作在 模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產、質量保證中還是進貨檢驗，4284A都能滿足全部LCR測量要求。

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更新日期：2023-11-15

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Agilent4287A射頻測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反射測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。 技術指標 測量參數：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ 測量電路形式：串聯和并聯 工作頻率：1 MHz～3 GHz 頻率分辨率：10 kHz

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更新日期：2023-11-17

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